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Datenschutzhinweis


Die Fakultät für angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik schätzt die Kommunikationsmöglichkeiten, die Soziale Medien bieten.
Sie macht jedoch darauf aufmerksam, dass bereits durch das Anklicken von Links zu diesen Diensten eine Übermittlung personenbezogener Daten erfolgen kann.

Dies ist unabhängig davon, ob Sie selbst Mitglied des sozialen Netzwerks sind oder nicht. Diese Daten könnten technisch zum Aufbau eines personenbezogenen Profils genutzt werden.

Die Fakultät für angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik hat keine Kontrolle über die ausgelösten Vorgänge. Mit dem Anklicken dieser Links verlassen Sie den von der Fakultät kontrollierten und verantworteten Bereich. Beachten Sie auf jeden Fall die Datenschutzregelungen und -einstellungen der Anbieter.

@HAW_Muenchen_06


Vorlesungsverschiebungen

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@Vorlesung_FK06


Festkörperphysik

Kurzbeschreibung:


Untersuchung der strukturellen, optischen und megnetischen/elektrischen Eigenschaften der festen Materie.
Schwerpunkt: Materialwissenschaftliche Analytik und Charakterisierung von Halbleiterkristallen und -nanostrukturen.
Tiefe Temperaturen.

Laborausstattung:

    • FTIR-Spektrometer (Absorption/Reflexion, 12000 - 100 cm-1, 4 - 300 K)
    • Photolumineszenz (600 - 1700 nm, 7 - 300 K)
    • Röntgendiffraktometrie (2-Kreis-Goniometer)
    • Halleffekt (0 - 4 T, 300 - 400 K)
    • Bestimmung von I-U- und C-U-Kennlinien
    • Kapazitätstransienten-Spektroskopie (DLTS, 77 - 300 K)
    • Tunnelmikroskopie (Lehraufbau)
    • Bestimmung magnetischer Größen
    • Oberflächenabtastverfahren
    • Probenpräparation (Sägen, Schleifen, Polieren)

Themengebiete für Abschluss- und Projektarbeiten oder mögliche Kooperationen:


Infrarotabsorptionsmessungen (FTIR)an Defekten in Halbleitern (Si, GaAs, u. a.)
Photolumineszenzmessungen an Halbleitern und Halbleiter-Heterostrukturen
Zeitaufgelöste Kapazitätsmessungen an Metall-Halbleiter-Grenzschichtstrukturen

In Zusammenarbeit mit externen Partnern durchgeführte Projekte:


FCM - Freiberger Compound Materials: Sauerstoffkorrelierte Defekte in halbisolierendem Galliumarsenid
Siltronic: Optische Spektroskopie an Stickstoff-Sauerstoff-Komplexen in Silizium
Wacker Chemie: Infrarotoptisches Messverfahren zur Bestimmung von Kohlenstoff in polykristallinem Silizium

DFG- und BMBF-Projekte (Schwerpunkt: Defektanalytik in Halbleitern) unter Beteiligung von Partnern aus der Industrie (FCM, Infineon, MEMC, Siltronic, Wacker Chemie).

Labor-Homepage:

Raum:

D208, D209

Tel:

089/1265-3633, 089/1265-3664

Laborleitung:

Prof. Dr. rer. nat. Matthias Gramich
Tel.: 089/1265-1643
matthias.gramich hm.edu

Belegschaft:

Dipl.-Phys. Hans Edwin Wagner
Tel.: 089/1265-3664
hwagner hm.edu

Dipl.-Phys. Thomas Wappmannsberger
Tel.: 089/1265-3633
thomas.wappmannsberger hm.edu




Verantworlich für die Angaben der Laborseite: GM. Letzte Änderung: 2017-10-20 13:07:08

 

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