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Datenschutzhinweis


Die Fakultät für angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik schätzt die Kommunikationsmöglichkeiten, die Soziale Medien bieten.
Sie macht jedoch darauf aufmerksam, dass bereits durch das Anklicken von Links zu diesen Diensten eine Übermittlung personenbezogener Daten erfolgen kann.

Dies ist unabhängig davon, ob Sie selbst Mitglied des sozialen Netzwerks sind oder nicht. Diese Daten könnten technisch zum Aufbau eines personenbezogenen Profils genutzt werden.

Die Fakultät für angewandte Naturwissenschaften und Mechatronik hat keine Kontrolle über die ausgelösten Vorgänge. Mit dem Anklicken dieser Links verlassen Sie den von der Fakultät kontrollierten und verantworteten Bereich. Beachten Sie auf jeden Fall die Datenschutzregelungen und -einstellungen der Anbieter.

@HAW_Muenchen_06


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@Vorlesung_FK06


Prof. Dr. rer. nat. Ullrich Menczigar
  [Professor]

Prof. Dr. rer. nat. Ullrich Menczigar
: UM
Photo
Tel. 089/1265-1681
Fax 089/1265-1603

ullrich.menczigar hm.edu

:

Mi 10:00 - 11:00 weitere Termine nach Absprache

[Kurzvita] - [Zuständigkeiten/Funktionsstellen]
[Nachrichten/Mitteilungen] - [Info]
[Kompetenzen für Industrie]
[Sonstige Arbeitsgebiete]
[Betreute Abschlussarbeiten]
[Lehrveranstaltungen seit SS17] - [Labore/Praktika] - [Downloads]

Betreute Abschlussarbeiten

Physikalische Modellbildung der thermischen Charakteristik von CoolMOS™ Produkten
25.10.17, Masterarbeit angefertigt von D. Ludwig bei Infineon Technologies AG
Spatial Resolution of a Silicon Drift Detector
27.02.17, Masterarbeit angefertigt von M. Berger bei Ketek GmbH
Scanning Capacitance Microscopy of Components from a SiGe Complementary BICMOS Technology Table of contents 1. Introduction 8 1.1 Bipolar Complementary technology (BiCom) 8 1.2 Heterojunction bipolar transistor (HBT) 8 2. Scanning Probe Microscope
12.01.17, Bachelorarbeit angefertigt von D. Dress bei Texas Instruments Deutschland GmbH
Regelung des Emissionsstroms eines Silizium-Feldemitter-Arrays
17.10.16, Masterarbeit angefertigt von P. Berwig bei KETEK GmbH
Analyse und Kalibrierung optischer SiO2-Schichtdickenmessungen zur Prozesskontrolle in der Halbleiterfertigung
01.01.16, Bachelorarbeit angefertigt von K. Halle bei Texas Instruments
Entwicklung einer schnellen Messvorrichtung zur Detektion von Fehlerströmen in einer Umrichteranlage des Kernfusionsexperimentes ASDEX Upgrade
18.08.14, Bachelorarbeit angefertigt von T. Guggemos bei Max-Planck-Institut für Plasmaphysik
Modellbildung und Validierung des thermischen Verhalten von HV MOSFETs
11.04.14, Bachelorarbeit angefertigt von M. Stoz bei Infineon Technologies AG
Optimierter Schaltmessplatz mit kompakter Gatetreiber-Endstufe für die Charakterisierung von Leistungstransistoren
01.04.14, Bachelorarbeit angefertigt von M. Zeleny bei Infineon Technologies AG
Entwicklung eines Hochparallel-Messplatzes für die embedded ­NVM-Charakterisierung in Chipkarten-Produkten
21.03.14, Bachelorarbeit angefertigt von I. Stanilov bei Infineon Technologies AG
Messung der Schaumhöhe während der Laugenzugabe bei der Neutralisation von Seifenschmierfetten
14.02.14, Bachelorarbeit angefertigt von F. Michael bei Klüber Lubrication SE und Co. KG
Entwicklung eines Loggers zur autonomen Überwachung und kabellosen Übertragung von Umgebungsparametern für Crashtest-Dummys
31.07.13, Bachelorarbeit angefertigt von S. Kuhn bei MESSRING Systembau MSG Gmbh
Applicability of the Solid/Solid- Wetting Concept on Graphenes Examination of Substrates and Organic Semiconductor Adsorbates
28.03.13, Masterarbeit angefertigt von M. Blum bei Center for NanoScience (CeNS) Ludwig-Maximilians-Universität München ; TUM School of Education Technische Universität München c/o Deutsches Museum, Zentrum Neue Technologien
Planung und Errichtung eines standardisierten Messaufbaus zur Bestimmung der Beschriftungsqualität von CO2-Lasern in Abhängigkeit von der Wellenlänge, sowie Durchführen von Beschriftungen und Messungen und automatisiertes Auswerten der Messergebnisse.
25.03.13, Bachelorarbeit angefertigt von M. Jost bei Smart Move GmbH



letzte Aktualisierung: 20.10.17

 

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